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超薄 TEM 制樣新范式|Gentle Mill 離子精修儀賦能優(yōu)質數據

 更新時間:2025-04-08 點擊量:217

在材料科學和納米技術領域,精確制備高質量的透射電子顯微鏡(TEM)和掃描透射電子顯微鏡(STEM)樣品是實現原子級分辨率成像和分析的關鍵。Technoorg Linda 公司生產的 Gentle Mill 離子精修儀以低能量離子束技術,為科研人員提供了一種高效、清潔的樣品精修解決方案,廣泛應用于各種材料的微觀結構和性能研究。本文精選了 11 篇使用 Gentle Mill 離子精修儀發(fā)表的文獻期刊(排名不分先后),展示了該設備在材料科學領域的廣泛應用和顯著成就。

 

01. 鈣釕氧化物超薄膜中異常尺寸效應的增強

 

關鍵詞:超常尺寸效應,超薄膜,CaRuO3

 

發(fā)表文章:Enhancement of Extraordinary Size Effect on CaRuO3 Ultrathin Films

發(fā)表期刊:ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的鈣釕化物樣品,并通過原子分辨率的 STEM 觀察,深入探究了其異常尺寸效應的增強現象。該研究借助 Gentle Mill 的低能量 Ar 離子束(0.3–1 keV)對樣品進行精修,成功去除了樣品表面的損傷層,為后續(xù)的高分辨率成像提供了高質量的樣品。

 

02. 通過 STEM 進行 InGaN 的成分 mapping 分析

 

關鍵詞:定量 STEM 分析,成分確定,多層切片模擬,冷凍晶格模擬

 

 

發(fā)表文章:Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy

發(fā)表期刊:Ultramicroscopy

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

 

研究人員使用 Gentle Mill 離子精修儀制備了清潔的 InGaN 樣品,并通過原子分辨率觀察,探索了一種使用定量 STEM 成像進行 In 濃度 mapping 分析的方法。Gentle Mill 在該研究中用于去除樣品表面的損傷區(qū)域,確保了樣品的高質量和分析結果的可靠性。

 

03. 銦摻雜氧化鋅反轉疇內金屬亞晶格位移場測量

 

關鍵詞:球差校正電鏡,位移場,摻雜化合物

 

 

發(fā)表文章:Displacement field measurement of metal sub-lattice in inversion domains of indium-doped zinc oxide

發(fā)表期刊:Ultramicroscopy

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的非均相氧化物樣品,并對其金屬內亞晶格位移場進行了測量。該研究中,Gentle Mill 利用低電壓離子束(1 keV Ar+離子)對樣品進行雙面精修,確保了樣品的超薄厚度和高質量,為后續(xù)的高分辨率成像和分析提供了有力支持。

 

04. 使用低電壓進行原子尺度的元素 mapping

 

關鍵詞:EELS,高分辨 mapping,STEM,多層切片計算

 

 

發(fā)表文章:Elemental mapping at the atomic scale using low accelerating voltages

發(fā)表期刊:Ultramicroscopy

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員使用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 SrTiO3(STO)樣品,并通過 EELS 技術對其進行了原子尺度的元素 mapping 分析。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行最終的離子束拋光,確保了樣品的高質量和分析結果的精確性。

 

05. 碳含量對奧氏體/ε-馬氏體雙相 Fe-Mn-C 鋼的微結構、馬氏體轉變和力學性能的影響

 

關鍵詞高錳鋼,變形誘導的馬氏體,TEM,EBSD

 

 

發(fā)表文章:Influence of carbon content on the microstructure,martensitic transformation and mechanical properties in austenite/e-martensite dual-phase Fe–Mn–C steels

發(fā)表期刊:Acta Materialia

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀清除了鋼鐵FIB 樣品上的 Ga 離子污染,從而對其結構、相變和性能進行了準確、可靠的研究。該研究中,Gentle Mill 利用低能量離子束(0.5 kV)對樣品表面進行了精修,有效去除了 FIB 加工過程中產生的 Ga 離子污染,為后續(xù)的高分辨率成像和分析提供了清潔的樣品。

 

06. 使用 STEM 進行皮米精度的局域晶體結構分析

 

關鍵詞:STEM,晶體結構分析,環(huán)形暗場像

 

 

發(fā)表文章:Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscopy

發(fā)表期刊:Ultramicroscopy

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄的 TmFeO3 樣品,并對其局域晶體結構進行了皮米精度的分析。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行機械減薄和低電壓離子束精修,確保了樣品的超薄厚度和高質量,為后續(xù)的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。

 

07. Sm 摻雜 BiFeO3 鐵電外延薄膜中反極性團簇的納米級結構和化學性質

 

關鍵詞:納米結構,反極性團簇,鐵電薄膜

 

 

發(fā)表文章:Nanoscale Structural and Chemical Properties of Antipolar Clusters in Sm-Doped BiFeO3 Ferroelectric Epitaxial Thin Films

發(fā)表期刊:CHEMISTRY OFMATERIALS

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了清潔的摻雜 BiFeO3 外延薄膜,從而研究了其納米級結構和化學性質。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行雙面精修,確保了樣品的清潔度和高質量,為后續(xù)的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。

 

08. 為透射電鏡開發(fā)的單色器的實踐工作

 

關鍵詞:單色器,EELS,空間分辨率

 

 

發(fā)表文章:Practical aspects of monochromators developed for transmission electron microscopy

發(fā)表期刊:Microscopy

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

借助 Gentle Mill 離子精修儀,研究人員可以制備清潔的 STO 樣品,從而檢驗透射電鏡單色器的實際效果。

 

09. 探索實空間中原子內部電荷密度分布

 

關鍵詞球差矯正STEM,DPC,電場像,GaN

 

 

發(fā)表文章:Probing the Internal Atomic Charge Density Distributions in Real Space

發(fā)表期刊:ACS Nano

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 GaN 樣品,并探索了其內部的電荷密度分布。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行離子束精修,確保了樣品的高質量和分析結果的可靠性。

 

10. 平衡態(tài) Ni–Al2O3 界面處固-固界面重構

 

關鍵詞:界面能,界面結構,TEM,重構

 

 

發(fā)表文章:Solid–solid interface reconstruction at equilibrated Ni–Al2O3 interfaces

發(fā)表期刊:Acta Materialia

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

科學家們借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 Ni–Al2O樣品,并研究了其固-固界面的重構行為。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行低電壓離子拋光,確保了樣品的高質量和分析結果的可靠性。

 

11. 關聯(lián) APT 和 STEM 研究揭示了含 Al 和 Gd 的 Mg 合金中 LPSO 相的生長序列

 

關鍵詞:APT,關聯(lián)成像,Mg合金,長程堆疊有序(LPSO)

 

 

發(fā)表文章:Correlative atom probe tomography and scanning transmission electron microscopy reveal growth sequence of LPSO phase in Mg alloy containing Al and Gd

發(fā)表期刊:Scientific Reports

使用儀器型號:Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀

 

 

研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀去除 TEM/STEM 觀察時的污染物,制備了清潔的 Mg 合金針尖,并進行了關聯(lián)的 APT 研究,從而揭示了其生長序列。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行低能量離子束精修,確保了樣品的清潔度和高質量,為后續(xù)的高分辨率成像和分析提供了有力支持。

 

Technoorg Linda 公司生產的 Gentle Mill 離子精修儀憑借其低能量離子束技術和高效精修能力,已成為材料科學領域的工具。通過上述 11 篇文獻的精選,我們可以看到 Gentle Mill 在多種材料的微觀結構和性能研究中發(fā)揮了重要作用,為科學家們提供了高質量、清潔的樣品,助力他們在原子級分辨率下實現精確的成像和分析。無論是在金屬氧化物、半導體材料還是合金體系中,Gentle Mill 都展現出了性能和可靠性,為材料科學的前沿研究提供了有力支持。

 

Gentle Mill 離子精修儀--用于FIB樣品處理

 

Gentle Mill 離子精修儀產品采用氬離子束,專為最終拋光、精修和改善 FIB 處理后的樣品而設計。Gentle Mill 型號非常適合要求樣品無加工痕跡、表面幾乎沒有任何損壞的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用戶。其配備了專業(yè)的低能氬離子槍,離子束能量低至 100eV,可把非晶層厚度精修到 1nm 以下,獲得樣品的真實信息。

 



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